Naar de inhoud
Menu

Gegunde opdrachtLeveringenEuropees

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Technische Universiteit Delft

Dit is een gegunde opdracht. Bekijk op TenderNed ook de oorspronkelijke aankondiging en eventuele latere publicaties.

Samenvatting van het bestek

AI-samenvatting — controleer altijd de officiële stukken

Voor deze aanbesteding is (nog) geen samenvatting beschikbaar. We vatten alleen documenten samen die op TenderNed staan.

Omschrijving

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

CPV-codes

  • 38511000Elektronenmicroscopen (hoofdopdracht)

Meer in deze hoofdgroep: Laboratorium- en precisie-instrumenten

Documenten

Er staan 3 documenten op TenderNed. Downloaden kan via de officiële publicatie.

Documentenlijst
NaamSoortGrootte
TN576329 - EF25 Aankondiging in geval van vrijwillige transparantie vooraf - algemene richtlijn 20260310142502 (pdf)Aankondiging196 kB
TN576329 - EF29 Aankondiging gegunde opdracht - algemene richtlijn, standaardregeling 20260528093445 (pdf)Aankondiging204 kB
KO-Criteria (pdf)Aanbestedingsdocument243 kB

Meer open opdrachten

In Laboratorium- en precisie-instrumenten

Van Technische Universiteit Delft

Ontvang dit soort opdrachten automatisch

Maak een gratis zoekprofiel en krijg elke werkdag om 7 uur de nieuwe aanbestedingen die erbij passen.

Gratis zoekprofiel maken